[发明专利]测定仪器、测定装置和测定方法有效
| 申请号： | 200680028173.8 | 申请日： | 2006-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN101233408A | 公开（公告）日： | 2008-07-30 |
| 发明（设计）人： | 福永淳;中南贵裕;龟井明仁 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/03 | 分类号： | G01N21/03;G01N21/59;G01N27/327;G01N27/416 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 陈建全 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的测定仪器具有用于保持试剂的第1容器和第2容器、以及用于进行光学测定的光学测定部。第1容器具有用于将含有待测物质的试剂供给至上述第1容器的第1试样供给口和电极。第2容器具有用于将试样供给至上述第2容器的第2试样供给口和用来保持用于光学测定的试剂的试剂保持部。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 仪器 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.用于分析试样中所含的待测物质的测定仪器，其具备：用于保持含有待测物质的试样的第1容器和第2容器、以及用于对保持在所述第2容器内的所述试样进行光学测定的光学测定部；所述第1容器具备用于将所述试样供给至所述第1容器中的第1试样供给口和电极；所述第2容器具备用于将所述试样供给至所述第2容器中的第2试样供给口和用来保持用于所述光学测定的试剂的试剂保持部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社，未经松下电器产业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200680028173.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
