[发明专利]表面增强的光谱法、挠性结构化基底及其制备方法无效
| 申请号： | 200680025731.5 | 申请日： | 2006-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN101223435A | 公开（公告）日： | 2008-07-16 |
| 发明（设计）人： | 约翰·C·胡尔滕;利萨·A·迪克;张海燕;威廉·L·斯特宾斯 | 申请（专利权）人： | 3M创新有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65;G01N21/55 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 樊卫民;郭国清 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及挠性聚合物基底(100)，其用于表面增强拉曼光谱(SERS)和表面等离子体激元谐振(SPR)的测定。所述基底包括聚合物膜(125)，其中纳米结构化部件(152)被压花在一个表面上，并被镀金属层(130)覆盖，所述镀金属层(130)由金、银等制得；从而提供SERS活性表面。本发明还涉及一种制造装置的方法，以及包括DNA感测的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 增强 光谱 结构 基底 及其 制备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种分析物质的方法，包括：(a)提供挠性结构化基底，其包括：(i)单块聚合膜，其包括：具有第一和第二相反主表面的底部，其中至少一部分所述第一主表面至少部分地由纳米结构限定；和(ii)顺应地设置于至少一部分所述纳米结构上的金属层；(b)提供紧密靠近至少一部分所述金属层的被分析物；和(c)观测所述被分析物的表面增强光学性能。
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