[发明专利]标本分析方法及标本分析装置无效

专利信息
申请号: 200680010576.X 申请日: 2006-03-23
公开(公告)号: CN101151534A 公开(公告)日: 2008-03-26
发明(设计)人: 山本典正;山登隆司;松尾直彦;井口圣 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00
代理公司: 北京金之桥知识产权代理有限公司 代理人: 梁朝玉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种能够在对标本进行分析之前检测出干涉物质的标本分析方法及设备。本方法包括以下步骤:将吸移试样容器(150)中装有的标本,分装到第1容器(153)中;对所述第1容器中的标本进行光学测定;分装所述标本到第2容器(154),在第2容器中将标本与试剂混合,调制测定用试样;根据所述标本的光学测定结果,对测定用试样进行分析。
搜索关键词: 标本 分析 方法 装置
【主权项】:
1.一种标本分析方法,包括以下步骤:吸移试样容器(150)中装有的标本,分装到第1容器(153)中;对所述第1容器中的标本进行光学测定;分装所述标本到第2容器(154),在第2容器中将标本与试剂混合,调制测定用试样;根据所述标本的光学测定结果,对测定用试样进行分析。
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