[发明专利]用于表征清澈和混浊介质中的颗粒的方法和设备无效
申请号: | 200680009509.6 | 申请日: | 2006-01-27 |
公开(公告)号: | CN101147055A | 公开(公告)日: | 2008-03-19 |
发明(设计)人: | E·格拉顿;G·莫托尔西;A·塔哈里 | 申请(专利权)人: | 伊利诺伊大学评议会 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京北翔知识产权代理有限公司 | 代理人: | 谢静;杨勇 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了用于检测、识别、分类并表征流体样本中颗粒的方法和设备。提供了具有可旋转和/或可平移的样本容器的光学分析器,用于测量以极低浓度存在的荧光颗粒的浓度,并且用于基于大小、形状、扩散常数和/或成分表征荧光颗粒。提供了使用模式识别数据分析技术和多信道检测的扫描光学分析器。 | ||
搜索关键词: | 用于 表征 清澈 混浊 介质 中的 颗粒 方法 设备 | ||
【主权项】:
1.一种用于分析样本中颗粒的设备,所述设备包括:至少部分透明的容器,用于容纳包含所述颗粒的所述样本;光源,用于产生提供给所述样本的激发光,从而使得至少部分所述颗粒产生荧光;用于收集来自位于所述容器内的观察体积的荧光的装置;用于移动所述容器的装置,从而使至少部分所述颗粒传输穿过所述观察体积;以及与所述用于收集荧光的装置光通信的光电检测器,用于接收来自所述观察体积的至少部分所述荧光并测量其强度,从而产生所述荧光的时间曲线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于伊利诺伊大学评议会,未经伊利诺伊大学评议会许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680009509.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:使用接触镜控制近视
- 下一篇:电化学处理设备和处理半导体器件的方法