[发明专利]高速采样架构有效

专利信息
申请号: 200680007612.7 申请日: 2006-01-12
公开(公告)号: CN101164237A 公开(公告)日: 2008-04-16
发明(设计)人: 桑迪普·库马·格普特;奥利斯特·扎布罗多 申请(专利权)人: 特耐极锐公司
主分类号: H03M1/00 分类号: H03M1/00
代理公司: 上海恩田旭诚知识产权代理有限公司 代理人: 尹洪波
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 揭露了一种高速采样系统及模数转换器。信号采样方法的一个实施例包括以速率Fs接收模拟信号并且生成所述信号的第一样本,并且以速率Fs/N从所述第一样本生成第二子样本,并且具有约(360/N)*(i-1)度的相对相位,其中i从1变化至N。在第一实施例中,在任何时间点上最多有两个第二采样器跟踪所述第一采样器的输出。在第二实施例中,在任何时间点上N个第二子采样器中仅有一个跟踪所述第一果样器的输出。第三实施例进一步包括以速率Fs/N从所述第二样本生成第三样本,并且相对相位为约((360/N)*(i-1)+180)度,其中i从1变化至N。一种交错模数转换的方法包括接收所述第三样本的相应时间交错ADC。
搜索关键词: 高速 采样 架构
【主权项】:
1.一种采样电路,包括:第一采样器,其以速率Fs接收模拟信号并且生成第一样本;N个第二采样器,第i个第二采样器以速率Fs/N从所述第一样本生成第二子样本并且具有约(360/N)*(i-1)度的相位,其中i从1变化至N;N个第三采样器,第i个第三采样器以速率Fs/N从所述第二子样本生成第三子样本并且具有约((360/N)*(i-1)+180)度的相位。
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