[发明专利]用于检测机械部件的位置和/或形状的设备和方法无效
申请号: | 200680006504.8 | 申请日: | 2006-03-13 |
公开(公告)号: | CN101133298A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 |
发明(设计)人: | R·奇普里亚尼 | 申请(专利权)人: | 马波斯S.P.A.公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人: | 周建秋;王凤桐 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | 用于检测机械部件的设备,该设备包括底座(1)、锁定和参照系统(31)、光电测量系统(53)、移动系统(3、9、26)和处理单元(25),该处理单元(25)用于接收和处理所述光电系统的信号。所述移动系统还可以沿着横轴使所述光电系统与待测部件之间进行相互平移移动。一种检测方法,该方法预见到检测所述光电系统在至少两个不同的横向位置(A、B)上进行相互振动的过程中所提供的有关部件的表面(51)的信号,并进行处理,从而获得有关虚拟表面(51’)的信息。所述方法和设备可以获得有关磁盘存储单元的尺寸非常小的部件的位置和/或布置和/或形状的信息。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 机械 部件 位置 形状 设备 方法 | ||
【主权项】:
1.用于检测机械部件(40;50)的位置和/或形状的光电设备,该设备包括:底座(1);待测部件(40;50)的锁定和参照系统(31);具有光电系统(53)的检测装置,所述光电系统(53)用于提供指示待测部件(40;50)的至少一些部分(51)的位置的信号;转动系统(26),所述转动系统(26)可以围绕转动纵轴使所述光电系统(53)与所述待测部件(40;50)之间进行转动移动;和处理单元(25),所述处理单元(25)用于接收所述光电系统(53)的信号和提供关于所述待测部件(40;50)的位置和/或形状的信息;其特征在于,该设备还包括横向平移系统(9),所述横向平移系统(9)定义了相对于所述转动纵轴横向的平移轴,并且可以沿着所述平移轴使所述光电系统(53)与所述待测部件(40;50)之间进行平移移动。
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