[发明专利]调试装置和方法无效
| 申请号： | 200680003421.3 | 申请日： | 2006-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN101142560A | 公开（公告）日： | 2008-03-12 |
| 发明（设计）人： | 纳加拉杰·布萨;纳伦德拉纳斯·乌杜帕;萨伊纳斯·卡尔拉帕勒姆 | 申请（专利权）人： | NXP股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种数据处理系统，包括：至少一个处理单元(PU)，用于处理应用程序；以及调试器装置(DM)，用于基于多个断点来对所述至少一个处理单元(PU)的处理进行调试。所述调试器装置(DM)包括：第一断点寄存器(BAR)，用于存储所述多个断点之一的基址，其中，所述调试器装置(DM)基于存储在第一断点寄存器，即基址寄存器(BAR)中的地址，发起对所述至少一个处理单元(PU)的处理的调试。第二断点寄存器(OR)设置来存储用于获得后续断点的偏移量。逻辑算术单元(LAU)设置来基于存储在第一断点寄存器中的基址和存储在第二断点寄存器中的偏移量，重复地计算断点条件，并相应地更新存储在第一断点寄存器中的基址。 | ||
| 搜索关键词： | 调试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种数据处理系统，包括：至少一个处理单元(PU)，用于处理应用程序；以及调试器装置(DM)，用于基于多个断点来对所述至少一个处理单元(PU)的处理进行调试，所述调试器装置(DM)包括：第一断点寄存器(BAR)，用于存储所述多个断点之一的基址，其中，所述调试器装置(DM)基于存储在基址寄存器(BAR)中的地址，发起对所述至少一个处理单元(PU)的处理的调试，第二断点寄存器(OR)，用于存储断点相对于基址的偏移量，逻辑算术单元(LAU)，用于基于存储在第一断点寄存器(BAR)中的基址和存储在第二断点寄存器(OR)中的偏移量，重复地检测断点条件，并相应地更新存储在第一断点寄存器(BAR)中的基址。
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