[实用新型]扫描电镜中纳米线原位拉伸装置无效

专利信息
申请号: 200620172814.4 申请日: 2006-12-29
公开(公告)号: CN201034884Y 公开(公告)日: 2008-03-12
发明(设计)人: 韩晓东;张跃飞;张泽 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N13/10
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 代理人: 刘萍
地址: 100022*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种在扫描电镜中纳米线原位拉伸装置属于纳米材料力学性能原位测量领域。本实用新型特征在于:包括底座(1)和固定在底座上的加热器(2),加热器(2)上面固定带有凹槽的支架(3),支架上的两个凹槽里面用紧固螺钉(9)分别固定两个双金属片(7)的一端,两双金属片(7)的另一端分别与一对滑块(5)连接;导轨(4)固定在底座(1)上面,导轨(4)与支架(3)平行,与双金属片(7)垂直;一对滑块(5)设置在导轨(4)上面,两滑块(5)上面分别设置一对水平位置可调节的样品台(6)。本实用新型具有结构简单,控制方便,应变速率可控等优点,可以方便地在扫描电子显微镜中工作,实现了纳米线力学性能的愿位,在线测量。
搜索关键词: 扫描电镜 纳米 原位 拉伸 装置
【主权项】:
1.一种扫描电镜中纳米线原位拉伸装置,其特征在于:包括底座(1)和固定在底座上的加热器(2),加热器(2)上面固定带有凹槽的支架(3),支架上的两个凹槽里面用紧固螺钉(9)分别固定两个双金属片(7)的一端,两双金属片(7)的另一端分别与一对滑块(5)连接;导轨(4)固定在底座(1)上面,导轨(4)与支架(3)平行,与双金属片(7)垂直;一对滑块(5)设置在导轨(4)上面,两滑块(5)上面分别设置一对水平位置可调节的样品台(6)。
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