[实用新型]双台轮换曝光精密定位系统无效

专利信息
申请号: 200620044000.2 申请日: 2006-07-18
公开(公告)号: CN2938172Y 公开(公告)日: 2007-08-22
发明(设计)人: 李映笙;李小平;杨志勇;关俊;高少文;孙文凤;李刚;蔡燕民 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F9/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 王洁
地址: 201203上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种双台轮换曝光精密定位系统,至少包括基台、设置在基台上并运行于预处理工位的硅片台定位单元、运行于曝光工位的硅片台定位单元,每个硅片台定位单元至少包括硅片台、运动定位检测装置、X向导轨、Y向导轨、线性光栅。该系统的预处理工位和曝光工位均设置有两个X向导轨,所述X向导轨位于Y向导轨上方,可沿Y向导轨运动,相邻工位的X向导轨可进行对接。有益效果是:硅片台的交换路径短,导轨受力均匀,受工位尺寸约束小,极大地提高了系统的交换速度,运行精度和可扩展性。同时,本实用新型的结构不需采用额外的防碰撞装置,简化了系统,降低了成本,有效地提高了可靠性。
搜索关键词: 轮换 曝光 精密 定位 系统
【主权项】:
1.一种双台轮换曝光精密定位系统,至少包括基台、设置在基台上并运行于预处理工位的硅片台定位单元、运行于曝光工位的硅片台定位单元,每个硅片台定位单元至少包括硅片台、运动定位检测装置、X向导轨、Y向导轨、线性光栅,其特征在于:每个工位均设置两个X向导轨,所述X向导轨位于Y向导轨上方,可沿Y向导轨运动,相邻工位的X向导轨可进行对接。
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