[发明专利]制造高密度的半成品或元件的方法有效

专利信息
申请号: 200610167574.3 申请日: 2006-12-22
公开(公告)号: CN101007350A 公开(公告)日: 2007-08-01
发明(设计)人: W·施皮尔曼;G·莱希特弗里德 申请(专利权)人: 普兰西金属有限公司
主分类号: B22F3/16 分类号: B22F3/16;H01J9/02
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 徐雁漪
地址: 奥地利*** 国省代码: 奥地利;AT
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摘要: 发明涉及一种由平均相对密度>98.5%、相对芯部密度>98.3%的钼、钼合金、钨或钨合金材料制造半成品或元件的方法。该方法包括烧结到相对密度D为90%<D<98.5%,且闭孔相对于总孔隙度的比例>0.8,并在0.40到0.65×固相线温度的温度下和50到300MPa的压力下进行热等静压制。用这种方法制造的元件例如被用作电极,其具有许多改良的使用寿命特性。
搜索关键词: 制造 高密度 半成品 元件 方法
【主权项】:
1.一种由平均相对密度>98.5%、相对芯部密度>98.3%的钼、钼合金、钨或钨合金材料制造半成品或元件的方法,其特征在于,该方法包含至少以下步骤:·制备Fisher粒径为0.5到10μm的粉末;·在100到500MPa的压力下压制该粉末;·在0.55到0.92×固相线温度的温度下烧结到相对密度为D,其中90%<D<98.5%;·在0.40到0.65×固相线温度的温度下和50到300MPa的压力下,不使用罐的情况下进行热等静压制;·以成型率成形,其中15%<<90%。
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