[发明专利]测试点查错方法无效
| 申请号： | 200610165608.5 | 申请日： | 2006-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN101196943A | 公开（公告）日： | 2008-06-11 |
| 发明（设计）人： | 张雪斌;杨淑敏 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 程伟;王锦阳 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种测试点(testpoint)查错方法，其应用于数据处理装置中，并搭载至一用以于电路板的通孔(Via)上布设测试点的布设应用程序中，该方法包括：通过该布线应用程序选取通孔时，采集该通孔的规格参数；通过该布线应用程序选取欲于该通孔上进行布设的测试点时，采集该测试点的规格参数；以及将所选取的该通孔的规格参数与该测试点的规格参数予以对比，且于两者经对比为不匹配时，则令该布线应用程序暂停布设测试点的动作，并发出一错误提示信息，以确保所选取的测试点的正确性，降低操作过程中的失误，同时还简化操作流程及节省作业时间，并得以提高工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 查错 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试点查错方法，其应用于数据处理装置中，并搭载至一用以于电路板的通孔上布设测试点的布设应用程序，其特征在于，该测试点查错方法包括：在通过该布线应用程序选取欲布设测试点的通孔时，采集该通孔的规格参数；在通过该布线应用程序选取欲于该通孔上进行布设的测试点时，采集该测试点的规格参数；以及将所选取的该通孔的规格参数与该测试点的规格参数予以对比，且于两者经对比为不匹配时，令该布线应用程序暂停布设测试点的动作，并发出错误提示信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英业达股份有限公司，未经英业达股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610165608.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
