[发明专利]一种归属位置寄存器的测试装置及方法无效

专利信息
申请号: 200610165151.8 申请日: 2006-12-13
公开(公告)号: CN101202943A 公开(公告)日: 2008-06-18
发明(设计)人: 鞠炜刚;陆卫斌;丁国营 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04Q7/22 分类号: H04Q7/22;H04Q7/38
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 梁挥;刘健
地址: 518057广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种归属位置寄存器的测试装置,包括:一模拟驱动模块,用于设置所述归属位置寄存器接口上的测试流程来模拟仿真一个或多个网元,并完成对该测试流程的驱动;一消息编辑模块,用于对该测试流程涉及的协议消息进行编辑和参数设置;一消息处理模块,用于对所述测试流程涉及的协议消息进行处理,并协同所述模拟驱动模块完成对该测试流程的驱动。相应地,本发明还提供一种归属位置寄存器的测试方法。本发明不仅测试成本低,而且测试环境搭建简单、易于维护,极大的提高了工作效率;另外,本发明可根据业务需要在HLR接口上灵活设置测试流程和消息参数,从而提升了测试过程的灵活性。
搜索关键词: 一种 归属 位置 寄存器 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种归属位置寄存器的测试装置,其特征在于,包括:一模拟驱动模块,用于设置所述归属位置寄存器接口上的测试流程来模拟仿真一个或多个网元,并完成对该测试流程的驱动;一消息编辑模块,用于对该测试流程涉及的协议消息进行编辑和参数设置;一消息处理模块,用于对所述测试流程涉及的协议消息进行处理,并协同所述模拟驱动模块完成对该测试流程的驱动。
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