[发明专利]吸收介质的荧光光谱学无效

专利信息
申请号: 200610162749.1 申请日: 2006-10-25
公开(公告)号: CN1982875A 公开(公告)日: 2007-06-20
发明(设计)人: W·佩特里希;C·加斯勒-迪舍;C·霍恩;K·赫贝斯特雷特;J·-M·阿斯富尔;K·巴德朗;G·科彻舍特 申请(专利权)人: 霍夫曼-拉罗奇有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N33/48
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘红;陈景峻
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 发明涉及用于通过荧光测量检测样本中分析物的过程和设备。
搜索关键词: 吸收 介质 荧光 光谱
【主权项】:
1.用于通过荧光测量检测样本中分析物的过程,包含以下步骤:(a)提供检测介质,包含:(i)至少部分样本,其中分析物将被测定,(ii)适当时至少一种用于测定该分析物的试剂,(iii)具有激发范围的荧光团,该激发范围在第一波长处具有至少一个激发峰,或荧光团前驱物,当存在样本和适当时的试剂(ii)时荧光团可由该荧光团前驱物产生荧光团;(iv)吸收跨越荧光团(iii)的激发范围的一部分的光的吸收体,导致系统有效激发范围改变,所述系统包含荧光团(iii)、以及在第二波长处具有激发峰的吸收体(iv),该第二波长与第一波长不同,(b)用光照射以在第二波长区域激发荧光团,(c)在一个或更多合适的测量波长处测定荧光团的荧光发射以测定样本内分析物的存在、数量或活性。
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