[发明专利]CT系统束硬化后处理方法及CT系统有效
| 申请号： | 200610160407.6 | 申请日： | 2004-04-05 |
| 公开（公告）号： | CN1965762A | 公开（公告）日： | 2007-05-23 |
| 发明（设计）人： | 谷川俊一郎;贯井正健 | 申请（专利权）人： | GE医药系统环球科技公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 吕晓章;李晓舒 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明的目的是计算出更精确的束硬化校正系数。将具有椭圆形截面的人体模型或具有环形(扇形)截面和均匀厚度的人体模型放在X射线CT系统中，并从多个方向对其扫描以便得到多个视图。利用扫描的结果来计算用于校正从受检者那里得到的投影信息的校正系数。 | ||
| 搜索关键词： | ct 系统 硬化 处理 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线CT系统的束硬化后处理方法，包括以下步骤：将具有椭圆形截面的人体模型放在X射线管和X射线检测器之间的扫描场中，从一个或多个方向扫描人体模型，以便获得多个视图，并用第一投影信息来产生一个窦腔X射线照相；按照束硬化效应来校正第一投影信息，以便产生第二投影信息；对第二投影信息拟合第一函数，以便产生第三投影信息；对多个第三投影信息值拟合第二函数，所述第三投影信息值是作为以构成第二投影信息的多个第二投影信息值为独立变量的函数提供的，所述多个第二投影信息值是相对于所有视图和所述X射线检测器的多个通道中的每一个而采样的；以及使用作为第二函数获得的校正函数，校正从位于扫描场中的受检者那里获得的投影信息。
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