[发明专利]电子照相感光体及电子照相感光体的制造方法有效

专利信息
申请号: 200610153036.9 申请日: 2006-09-18
公开(公告)号: CN1940736A 公开(公告)日: 2007-04-04
发明(设计)人: 大坪淳一郎;东润;丸尾敬司;稻垣义雄;中井规郎;浜崎一也;大河志穗 申请(专利权)人: 京瓷美达株式会社
主分类号: G03G5/04 分类号: G03G5/04;G03G5/05
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 苗堃;刘继富
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种很少在高温高湿下发生影像模糊,并且容易制造的电子照相感光体、以及这样的电子照相感光体的制造方法。所述电子照相感光体具有支持基体、中间层和感光体层,其中,中间层含有氧化钛和粘结树脂,同时,该中间层中的ΔL值满足-5.0≤ΔL≤0,或者该中间层中的ΔA值满足ΔA≤0.055,其中,ΔL值:以在支持基体上形成中间层的状态测定的L值(基于JIS Z 8722标准,用色差计测定的参数值)减去单独测定支持基体的L值得到的差值;ΔA值:以在支持基体上形成中间层的状态测定的反射吸光度(用色差计测定的参数值)减去单独测定支持基体的反射吸光度得到的差值。
搜索关键词: 电子 照相 感光 制造 方法
【主权项】:
1.一种电子照相感光体,其具有支持基体、中间层和感光体层,其特征在于,所述中间层含有氧化钛和粘结树脂,同时,该中间层中的ΔL值满足下述关系式(1),或者该中间层中的ΔA值满足下述关系式(2),-5.0≤ΔL≤0 (1)ΔA≤0.055 (2)ΔL值:以在所述支持基体上形成所述中间层的状态测定的L值减去单独测定所述支持基体的L值得到的差值,这里的L值是基于JIS Z 8722标准而用色差计测定的参数值;ΔA值:以在所述支持基体上形成所述中间层的状态测定的反射吸光度减去单独测定所述支持基体的反射吸光度得到的差值,这里的反射吸光度是用色差计测定的参数值。
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