[发明专利]循轨误差控制装置、循轨误差控制电路、光盘装置和循轨误差控制方法无效
| 申请号： | 200610145435.0 | 申请日： | 2006-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN1967675A | 公开（公告）日： | 2007-05-23 |
| 发明（设计）人： | 宫崎和彦;正木清;山田真一;桑原雅弥;白根英树 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09;G11B7/095 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陆弋;朱登河 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 第二循轨误差检测器基于第一和第二凹坑串之间各自的复制信号的比较，检测光轨和光束之间的移位，并输出第二移位检测结果。第二循轨误差控制器基于所述第二移位检测结果，以推拉控制校正目标位置。第三循轨误差控制器基于第二循轨误差控制器对所述目标位置的校正量，计算第一移位检测结果的校正数据，并基于所计算的校正数据校正第一移位检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 误差 控制 装置 控制电路 光盘 方法 | ||
【主权项】：
1、一种循轨误差控制装置，其中：光束被发射于光盘上，并且在所述光盘中记录的信息作为复制信号被检测；沿所述盘的圆周布置的光轨和所述光束之间的移位，通过推拉方法得到检测，并且第一移位检测结果被输出；基于所述第一移位检测结果，所述光束被控制以跟随设置于所述光轨上的目标位置；基于第一和第二凹坑串的复制信号之间的比较，所述光轨和所述光束之间的移位得到检测，进而输出第二移位检测结果，其中所述第一和第二凹坑串从所述光轨的中心沿所述盘的径向方向被设置；并且所述目标位置基于所述第二移位检测结果得到校正，所述第一移位检测结果的校正数据基于校正量得到计算，从而基于所述计算出的校正数据校正所述第一移位检测结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社，未经松下电器产业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610145435.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
