[发明专利]用于执行测试的方法和集成电路无效
| 申请号： | 200610143829.2 | 申请日： | 2006-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN1975449A | 公开（公告）日： | 2007-06-06 |
| 发明（设计）人： | O·托雷特尔;D·文德尔;G·戈德里安 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 于静;李峥 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及一种执行通过低速测试系统对具有至少一个功能单元(20)和内置自测试特征的高速集成电路(10)进行的测试的方法。所述方法包括以下步骤：将来自测试系统的外部时钟信号转换为集成电路(10)中更快的内部时钟信号，根据预定方案生成测试图形，将测试图形应用于功能单元(20)，以及将来自功能单元(20)的响应与预期测试图形进行比较。如果响应与预期测试图形不同，则生成内部故障信号，并将内部故障信号扩展到可由测试系统识别的长度。本发明还涉及具有至少一个功能单元(20)和内置自测试特征的高速集成电路(10)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 执行 测试 方法 集成电路 | ||
【主权项】：
1.一种执行通过低速测试系统对具有至少一个功能单元(20)和内置自测试特征的高速集成电路(10)进行测试的方法，其中所述方法包括以下步骤：a)将来自测试系统的外部时钟信号转换为集成电路(10)中更快的内部时钟信号，b)根据预定方案生成测试图形，c)将所述测试图形应用于所述功能单元(20)，d)将来自所述功能单元(20)的响应与预期测试图形进行比较，e)如果所述响应不同于所述预期测试图形，则生成内部故障信号，以及f)将所述内部故障信号扩展到可由所述测试系统识别的长度。
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