[发明专利]集成电路测试器无效

专利信息
申请号: 200610136101.7 申请日: 2006-10-11
公开(公告)号: CN1948982A 公开(公告)日: 2007-04-18
发明(设计)人: 永沼英树 申请(专利权)人: 横河电机株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G09G3/00;G09G3/36
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 蒲迈文;黄小临
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于实现即使对于被测试对象供给或抽取电流,亦可正确地进行测试的集成电路测试器。本发明是对于用以测试被测试对象的集成电路测试器加以改进。本装置具备:电流单元,在被测试对象的输出引线进行电流的供给或抽取;以及测定单元,进行被测试对象输出引线的电压测定,依照被测试对象的输出电阻值及电流单元的电流值加以修正。
搜索关键词: 集成电路 测试
【主权项】:
1.一种集成电路测试器,用以对被测试对象进行测试,包含:a)电流单元,对于该被测试对象的输出引线进行电流的供给或抽取;以及b)测定单元,进行该被测试对象的输出引线的输出的电压测定,依照该被测试对象的输出电阻值与该电流单元的电流值加以修正。
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