[发明专利]集成电路测试器无效
申请号: | 200610136101.7 | 申请日: | 2006-10-11 |
公开(公告)号: | CN1948982A | 公开(公告)日: | 2007-04-18 |
发明(设计)人: | 永沼英树 | 申请(专利权)人: | 横河电机株式会社 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G09G3/00;G09G3/36 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 蒲迈文;黄小临 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于实现即使对于被测试对象供给或抽取电流,亦可正确地进行测试的集成电路测试器。本发明是对于用以测试被测试对象的集成电路测试器加以改进。本装置具备:电流单元,在被测试对象的输出引线进行电流的供给或抽取;以及测定单元,进行被测试对象输出引线的电压测定,依照被测试对象的输出电阻值及电流单元的电流值加以修正。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 测试 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路测试器,用以对被测试对象进行测试,包含:a)电流单元,对于该被测试对象的输出引线进行电流的供给或抽取;以及b)测定单元,进行该被测试对象的输出引线的输出的电压测定,依照该被测试对象的输出电阻值与该电流单元的电流值加以修正。
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