[发明专利]可供不同IP产品进行老化测试的方法及其所用测试板有效
| 申请号： | 200610119035.2 | 申请日： | 2006-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN101196546A | 公开（公告）日： | 2008-06-11 |
| 发明（设计）人： | 雷平水;曾志敏 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;G01R1/02;H01L21/66;G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 顾继光 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路测试方法，公开了一种可供不同IP产品进行老化测试的方法，包括步骤：用统一的封装形式对不同IP产品进行封装；在老化测试板上设计编程卡，该编程卡上设有电源通道及根据不同产品设计的负载电路，且所述编程卡与测试机台通道相连接，以实现测试机台到老化测试板上的被测器件的测试通道互连；在老化测试程序中添加扫描模块，以保护电源通道。本发明还公开了一种适用于上述方法的老化测试板。本发明的可供不同IP产品进行老化测试的方法，能有效节省老化测试成本和缩短测试周期。 | ||
| 搜索关键词： | 不同 ip 产品 进行 老化 测试 方法 及其 所用 | ||
【主权项】：
1.一种可供不同IP产品进行老化测试的方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)用统一的封装形式对不同IP产品进行封装，使该不同的IP产品共用老化测试座；(2)在老化测试板上设计编程卡，该编程卡上设有电源通道及根据不同产品设计的负载电路，且所述编程卡与测试机台通道相连接，以实现测试机台到老化测试板上的被测器件的测试通道互连；(3)在老化测试程序中添加扫描模块，以保护电源通道。
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