[发明专利]内存测试方法有效
| 申请号： | 200610117486.2 | 申请日： | 2006-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN101169975A | 公开（公告）日： | 2008-04-30 |
| 发明（设计）人： | 王琪 | 申请（专利权）人： | 英华达（上海）科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 李勇 |
| 地址： | 201114上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种内存测试方法，包括：(a)调整内存的相关参数，以选定一特定的工作模式；(b)在内存的各个储存位置中，填入各个储存位置的地址；(c)在内存的各个储存位置中，填入0或1；(d)将一预设的测试数据，依序填入内存的各个储存位置；(e)将一预设的测试数据，以一预设模数(module)为差值逐步增加，依序填入内存的各个储存位置；(f)随着内存的各个储存位置地址的递增，依序填入相对应的测试数据。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种内存测试方法，包括下列步骤：(a)在内存的各储存位置中，填入各储存位置的地址；(b)在内存的各储存位置中，填入0或1；(c)将一预设的测试数据，依序填入内存的各储存位置；(d)将一预设的测试数据，以一预设模数为差值逐步增加，依序填入内存的各储存位置；以及(e)随着各储存位置地址的递增，重复填入一系列相对应的测试数据；其中，在前述步骤(a)至(e)后，分别读出各储存位置内的数据，并且，比较填入各储存位置内的数据与所述读出的数据，以判断该内存是否正常。
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