[发明专利]测试仪同测方法有效
| 申请号： | 200610117249.6 | 申请日： | 2006-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN101165502A | 公开（公告）日： | 2008-04-23 |
| 发明（设计）人： | 武建宏;黄海华 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3177;G01R31/3183 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试仪同测方法，第一步：错误处理程序，设定多个芯片同测作为一个芯片进行测试；第二步：算法矢量发生器，将产生的一个信号通过可编程数据选择器分配到多个芯片的测试通道；第三步：顺序矢量发生器，通过设定程序将一个芯片的测试向量扩展到多个芯片的测试通道；第四步：获得所有测试通道的测试结果，所述测试通道根据不同通道地址进行分组，根据所述通道分组的结果判断各个芯片合格与否。本发明可以提高同侧数量，并且可根据需要任意调整同测量。 | ||
| 搜索关键词： | 测试仪 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试仪同测方法，其特征在于：第一步：错误处理程序，设定多个芯片同测作为一个芯片进行测试；第二步：算法矢量发生器，将产生的一个信号通过可编程数据选择器分配到多个芯片的测试通道；第三步：顺序矢量发生器，通过设定程序将一个芯片的测试向量扩展到多个芯片的测试通道；第四步：获得所有测试通道的测试结果，所述测试通道根据不同通道地址进行分组，根据所述通道分组的结果判断各个芯片合格与否。
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