[发明专利]一种测试嵌入式系统中定时器的方法及系统无效
申请号: | 200610114788.4 | 申请日: | 2006-11-23 |
公开(公告)号: | CN1952904A | 公开(公告)日: | 2007-04-25 |
发明(设计)人: | 占文静;游明琦 | 申请(专利权)人: | 北京中星微电子有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100083北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种测试嵌入式系统中定时器的方法及系统,用以解决现有技术中存在没有外围设备无法对定时器的准确性进行测试的问题。本发明的方法是嵌入式系统中的定时器根据预设的时间间隔发生中断,并通知嵌入式系统中的运行器进行中断处理;所述运行器在处理中断过程中向PC发送标志性信息;所述PC根据所述标志性信息确定接收到相邻两次标志性信息的实际间隔,并根据该实际间隔和预期间隔测试定时器的准确性,其中,预期间隔为预设的时间间隔的整数倍。该系统包括定时器、运行器和PC。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 嵌入式 系统 定时器 方法 | ||
【主权项】:
1、一种测试嵌入式系统中定时器的方法,其特征在于,包括以下步骤:嵌入式系统中的定时器根据预设的时间间隔发生中断,并通知嵌入式系统中的运行器进行中断处理;所述运行器在处理中断过程中向测试装置发送标志性信息;所述测试装置根据所述标志性信息确定接收到相邻两次标志性信息的实际间隔,并根据该实际间隔和预期间隔判断定时器的准确性,其中,预期间隔为预设的时间间隔的整数倍。
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