[发明专利]条式测试方法及功能测试装置有效
| 申请号： | 200610111041.3 | 申请日： | 2006-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN101122615A | 公开（公告）日： | 2008-02-13 |
| 发明（设计）人： | 卢忻杰;胡朝雄 | 申请（专利权）人： | 日月光半导体制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利商标事务所 | 代理人： | 翟羽 |
| 地址： | 中国台湾高雄*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种条式测试方法包括下列步骤：提供一整批条状，其中该整批条状包括复数个半导体装置，其具有复数个引脚；提供一测试座以及一基座，该测试座具有复数个探针组；将该整批条状加载到到该基座上；将该等探针组同时分别电性接触该等半导体装置的该等引脚，以进行一条式测试；当该等半导体装置的其中之一者被电性测试失败时，则相对移动该基座或该测试座中的其中之一者，使已电性测试失败的半导体装置对应于已电性测试成功并且距离最接近的该探针组；以及将该等探针组同时电性接触该等半导体装置的该等引脚，以重新进行另一次条式测试。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 功能 装置 | ||
【主权项】：
1.一种条式测试方法，包括下列步骤：提供一整批条状，其中该整批条状包括复数个半导体装置，其具有复数个引脚；提供一测试座以及一基座，该测试座具有复数个探针组；将该整批条状加载到该基座上；以及将该等探针组同时分别电性接触该等半导体装置的该等引脚，以进行第1次条式测试；其特征在于：该条式测试方法进一步包括以下步骤：经上述条式测试后，当该等半导体装置的其中之一者被电性测试失败时，则相对移动该基座或该测试座中的其中之一者，使已电性测试失败的半导体装置对应于已电性测试成功并且距离最接近的探针组；以及将该等探针组同时电性接触该等半导体装置的该等引脚，以重新进行第2次条式测试。
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