[发明专利]用于消除自动测试设备转位时间的方法和装置无效
| 申请号： | 200610103334.7 | 申请日： | 2006-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN1955751A | 公开（公告）日： | 2007-05-02 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·斯坦利·科洛曼 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种SOC测试器系统和方法，对第一组器件进行测试的同时，将第二组器件装载到第二组DUT测试位置中，从而消除了SOC测试器的转位时间，或者至少使其减少到在两组待测DUT之间由电子开关进行切换或进行机械式换档所需的延时。所述两组待测DUT位于安装在测试头上的DUT负载板上。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 消除 自动 测试 设备 时间 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种SOC测试器系统，包括：测试头；DUT负载板，所述DUT负载板具有第一组DUT测试位置和第二组DUT测试位置，所述DUT负载板安装到所述测试头上并与其电连接；和装卸装置，其中，在所述测试头对所述第一组DUT测试位置中的第一组DUT进行测试时，所述装卸装置从所述第二组DUT测试位置卸载DUT并向所述第二组DUT测试位置中插入DUT。
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