[发明专利]对待测物件作电子测试的方法和设备及其制造方法无效
| 申请号： | 200610100374.6 | 申请日： | 2006-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN1896759A | 公开（公告）日： | 2007-01-17 |
| 发明（设计）人： | 贡特尔·伯姆 | 申请（专利权）人： | 费恩金属有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/02;G01R31/00;H01L21/66;G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 吴林松 |
| 地址： | 德国黑伦贝格*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种接触装置，它连接待测物件和电子测试设备，具有至少在一个固定元件上的多个触点；本发明的接触装置(1)，固定元件(3)，具有至少一个位于相对于触点(7)中之一的一个定义位置的标识符(25)；本发明还涉及相关的实现方法。 | ||
| 搜索关键词： | 对待 物件 电子 测试 方法 设备 及其 制造 | ||
【主权项】：
1.对待测物件作电子测试的方法，它通过一个接触装置和一个电子测试设备相连；该接触装置具有至少在一个固定元件上的多个触点，与待测物件上的相对触点连接，利用接触装置和待测物件的光学检测来对所述触点和相对触点进行定位，其特征在于：用光学方法对至少一个标识符作位置测定，所述标识符位于该接触装置上相对于至少一个接头的一个定义位置。
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