[发明专利]微粒分析的定位标记制作方法有效
| 申请号： | 200610099071.7 | 申请日： | 2006-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN1877295A | 公开（公告）日： | 2006-12-13 |
| 发明（设计）人： | 刘国荣;李井怀;李静;赵永刚;李安利;王林博;郭士伦 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10;G01N15/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微粒分析的定位标记制作方法，该制作方法是把涂有导电银胶的定位网栅(1)沿倒扣在石墨样品垫(3)上的定位模具(4)的内径粘贴在石墨样品垫(3)上，再用挤压模具(2)固定定位网栅(1)。用此方法制作出的定位标记好处在于，放有样品的石墨样品垫(3)经过二次离子质谱仪离子束的轰击后，定位标记仍然清晰，不影响再定位的读数，且该方法不用蒸发镀膜仪，成本降低，操作简单。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒 分析 定位 标记 制作方法 | ||
【主权项】：
1.一种微粒分析的定位标记制作方法，其特征在于：所述的制作方法是把涂有导电银胶的定位网栅(1)沿倒扣在石墨样品垫(3)上的定位模具(4)的内径粘贴在石墨样品垫(3)上，再用挤压模具(2)固定定位网栅(1)。
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