[发明专利]形成等离子显示面板中的介电层的方法无效
申请号: | 200610089839.2 | 申请日: | 2006-05-24 |
公开(公告)号: | CN1983494A | 公开(公告)日: | 2007-06-20 |
发明(设计)人: | 金荣勋;李恩泰;崔雄 | 申请(专利权)人: | LG电子株式会社 |
主分类号: | H01J9/00 | 分类号: | H01J9/00;H01J17/02 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 林潮;樊卫民 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供了一种形成PDP中的介电层的方法。根据本发明,该方法包括:(a)形成生片,其包括底膜和在该底膜的表面上设置的成膜层,其中通过向底膜的所述表面上施加浆料在底膜的表面上形成成膜层,所述浆料含有基于PbO的玻璃粉末、结合剂、分散剂、增塑剂以及溶剂;(b)将生片的成膜层转移到基板的表面上,其中在基板的表面上设置电极;以及(c)烧结成膜层。 | ||
搜索关键词: | 形成 等离子 显示 面板 中的 介电层 方法 | ||
【主权项】:
1.一种形成用于PDP中的介电层的方法,包括(a)形成生片,其包括:底膜;以及在底膜的表面上设置的成膜层,其中通过向底膜的所述表面上施加浆料在底膜的表面上形成成膜层,所述浆料含有基于PbO的玻璃粉末、结合剂、分散剂、增塑剂以及溶剂;(b)将生片的成膜层转移到基板的表面上,其中在基板的表面上设置电极;以及(c)烧结成膜层,其中在570℃与600℃之间的烧结温度下烧结成膜层,并且其中以4℃/min至10℃/min的升温速率将成膜层加热至烧结温度。
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