[发明专利]一种无线电波路径损耗仿真测量方法有效
| 申请号： | 200610087149.3 | 申请日： | 2006-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN101090301A | 公开（公告）日： | 2007-12-19 |
| 发明（设计）人： | 欧阳俊;吴峰;李晟;陈健 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04B7/005 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 许志勇;颜涛 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种无线电波路径损耗仿真测量方法，包括：输入数字地图，确定地图矩阵与路损矩阵，并获得传播模型和发射天线参数；根据所述发射天线参数以及要测量的范围，生成一系列以发射天线为起点的分层射线，在每条射线上取一系列取样点，并根据地图矩阵中与取样点位置对应的地图栅格确定有效取样点；根据所述有效取样点位置在地图中对应的地理信息，计算发射天线的有效高度以及绕射损耗，并结合所述传播模型，计算有效取样点的路径损耗；将有效取样点的路径损耗作为与该有效取样点对应的地图栅格的路径损耗，保存入路损矩阵中。本发明着眼于路径损耗算法的时间复杂度和空间复杂度上，设计了一种快速有效的路径损耗测量的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 无线电波 路径 损耗 仿真 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种无线电波路径损耗的仿真测量方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)输入数字地图、传播模型和发射天线参数，根据预测半径生成路损矩阵；(2)根据所述发射天线参数以及要测量的范围，生成一系列以发射天线为起点的分层射线，在每条射线上取一系列取样点，并根据取样点与该点在路损矩阵中对应的栅格中心之间的距离确定有效取样点；(3)根据所述有效取样点位置在地图中对应的地理信息，计算发射天线的有效高度以及绕射损耗，并结合所述传播模型，计算有效取样点的路径损耗；(4)将有效取样点的路径损耗作为与该有效取样点对应的地图栅格的路径损耗，保存入路损矩阵中。
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