[发明专利]成像设备无效
| 申请号： | 200610077481.1 | 申请日： | 2006-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN1858659A | 公开（公告）日： | 2006-11-08 |
| 发明（设计）人： | 中村良 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G03G15/02 | 分类号： | G03G15/02;G03G15/04;G03G15/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 徐年康 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种成像设备，包括：载像构件；多个充电构件，用于向所述载像构件注入电荷；潜像形成装置，其相对于所述载像构件的圆周表面的运动方向设置在所述多个充电构件的下游，用于在已经由所述多个充电构件充电的所述载像构件上形成潜像；电位检测装置，用于在所述多个充电构件经过之后检测所述载像构件的表面电位；其中所述多个充电构件包括第一充电构件和相对于所述运动方向设置在最下游位置的第二充电构件，并且其中所述成像设备可以一种控制模式进行操作，在该控制模式中，施加到所述第一充电构件上的偏压变化而施加到所述第二充电构件上的偏压不变。 | ||
| 搜索关键词： | 成像 设备 | ||
【主权项】：
1.一种成像设备，其包括：载像构件；多个充电构件，用于向所述载像构件注入电荷；潜像形成装置，其相对于所述载像构件的圆周表面的运动方向设置在所述多个充电构件的下游，用于在已经由所述多个充电构件充电的所述载像构件上形成潜像；电位检测装置，用于在所述多个充电构件经过之后检测所述载像构件的表面电位；其中所述多个充电构件包括第一充电构件和相对于所述运动方向设置在最下游位置的第二充电构件，并且其中所述成像设备可以一种控制模式进行操作，在该控制模式中，施加到所述第一充电构件上的偏压变化而施加到所述第二充电构件上的偏压不变。
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