[发明专利]具多种测试模式的系统芯片及其测试方法无效
| 申请号： | 200610075674.3 | 申请日： | 2006-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN101059546A | 公开（公告）日： | 2007-10-24 |
| 发明（设计）人： | 余国成;许文琪;郭淑华;蔡荣壵;林汉宗 | 申请（专利权）人： | 盛群半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28;H01L21/66;H01L27/02 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁挥 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种具多种测试模式的系统芯片及其测试方法，是以不同的测试目的以及系统芯片面积大小与测试时间长短为考虑，所设计出来的系统芯片及测试方法，利用一测试模式控制单元来选择所需的测试模式，利用一复用器的多路传输功能来控制测试程序的来源，从而节省系统芯片面积及缩短测试时间，以达成降低生产成本的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 多种 测试 模式 系统 芯片 及其 方法 | ||
【主权项】：
1、一种具多种测试模式的系统芯片的测试方法，其特征在于包括：输入一第一控制信号至所述系统芯片的测试模式控制单元，确定一存活测试模式，该测试模式控制单元输出一第二控制信号至所述系统芯片的复用器，控制该复用器进行多路传输，并输出一第三控制信号至所述系统芯片的内部电路单元，抑制该内部电路单元输出内部电路信号；根据所述第二控制信号，经由多路传输撷取一存活测试程序；根据所述存活测试程序，进行测试，并读取所述系统芯片的内部寄存器的一暂存值，作为第一输出信号；传输所述第一输出信号至所述系统芯片的通用输入/输出单元，该通用输入/输出单元连接至一测试机台；以及所述测试机台比对所述第一输出信号。
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