[发明专利]基于微控制器和CPLD的高速动态测试装置及方法无效
| 申请号： | 200610066657.3 | 申请日： | 2006-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN101060331A | 公开（公告）日： | 2007-10-24 |
| 发明（设计）人： | 肖宛昂;石寅 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10;G01R31/28;G01R31/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 段成云 |
| 地址： | 100083北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及DAC动态功能测试装置技术领域，特别是一种基于AVR微控制器和CPLD复杂可编程逻辑器件的高速DAC动态测试装置及方法。包括：测试图形发生器、被测器件、图形比较器，其特征在于，首先，测试图形发生器输出数字化的图形数据，传送到测试装置上的SRAM静态随机存储器；然后在CPLD硬件控制电路的控制下，以150MHz的频率从SRAM中取数送到被测DAC器件进行数模转换，经过滤波后生成被测DAC器件的输出图形。最后，输入到图形比较器，在图形比较器中对被测DAC器件的输出图形与测试图形发生器输出的期待输出图形进行比较，分析被测DAC器件的动态功能。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 控制器 cpld 高速 动态 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于微控制器和CPLD的高速动态测试方法，首先，测试图形发生器输出数字化的图形数据，传送到SRAM；然后在CPLD硬件控制电路的控制下，以150MHz的频率从SRAM中取数送到被测DAC器件进行数模转换，经过滤波后生成被测DAC器件的输出图形，最后，DAC器件的输出图形输入到图形比较器，在图形比较器中对被测DAC器件的输出图形与测试图形发生器输出的期待输出图形进行比较，分析被测器件DAC的动态功能，以上过程由测试装置软件控制。
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