[发明专利]光学边折测量仪无效
申请号: | 200610064202.8 | 申请日: | 2006-11-15 |
公开(公告)号: | CN101029819A | 公开(公告)日: | 2007-09-05 |
发明(设计)人: | K·G·哈丁;唐述国;C·A·坎特洛 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 程天正;王勇 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种投射装置,将结构化光图案沿着第一光轴投射到表面。附于该投射装置的观察器接收该结构化光图案从该表面沿着第二光轴的反射,并数字化二维快照。这些光轴不平行,并且它们在该投射装置和该观察器的公共视场中相遇。连接到该观察器的计算机接收数字化快照,并分析它以便为表面建立数学模型,供显示和探查。该投射装置和附连的观察器设计成具有手柄和触发快照的触发按钮的手持单元。位于该单元上的引导端部在两个光轴旁边延伸至公共视场以定位该手持单元。 | ||
搜索关键词: | 光学 测量仪 | ||
【主权项】:
1.一种用于3D表面轮廓测量的光学边折测量仪,包括:投射装置(20),包括光源(22)和沿着投射光路引导来自该光源的光的投射光学系统;光栅装置(34),位于该投射光路中,用于修改该投射光路以便将结构化光图案投射到正在被测量轮廓的表面上;观察器(50),附连于该投射装置,包括具有与该投射光路不平行的观察光路的观察光学系统、光检测阵列(58),位于该观察光路中,用于检测来自该表面的结构化光图案的漫反射的图像、和数字化器(59),与该光检测阵列连接,用于数字化该图像;以及计算机(61),包括与该数字化器通信的数据输入和用于基于由数字化的反射图像所提供的表面轮廓信息为正在被轮廓测量的表面建模的处理器。
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