[发明专利]同轴多测点测试棒无效
| 申请号： | 200610053269.1 | 申请日： | 2006-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN1936595A | 公开（公告）日： | 2007-03-28 |
| 发明（设计）人： | 徐剑虹;吴易坤;王永超 | 申请（专利权）人： | 杭州高特电子设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/06 | 分类号： | G01R1/06;G01R1/067;G01R1/073;G01R27/02;G01R27/14 |
| 代理公司： | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 | 代理人： | 沈孝敬 |
| 地址： | 310012浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种同轴多测点测试棒，包括绝缘外壳，其特征在于所述的绝缘外壳轴心设有可伸缩金属探针，围绕所述的可伸缩金属探针至少设有一个同轴金属探针，各探针之间相互绝缘。本发明的同轴多测点测试棒，同轴设置的可伸缩探针与同轴金属探针可共同作用于被测物体，实现对同一测量部位的两点或多点同时测量的功能，配合仪表内部电路以消除测量引线电阻带来的测量误差，保证测量精度；同时同轴金属探针的截面较大，可以通过较大电流的，因而可以解决测量场合应用的局限，使其可以适用于多种信号的测量，特别是大电流信号的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 同轴 多测点 测试 | ||
【主权项】：
1、同轴多测点测试棒，包括绝缘外壳(3)，其特征在于所述的绝缘外壳(3)轴心设有可伸缩金属探针(5)，围绕所述的可伸缩金属探针(5)至少设有一个同轴金属探针(4)，各探针之间相互绝缘。
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