[发明专利]一种用于控制光学晶体温度的高温温度控制仪无效
| 申请号： | 200610012830.1 | 申请日： | 2006-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN1866149A | 公开（公告）日： | 2006-11-22 |
| 发明（设计）人： | 郑耀辉;卢华东;李凤琴;张宽收;王尚廉;王文哲;彭堃墀 | 申请（专利权）人： | 山西大学 |
| 主分类号： | G05D23/20 | 分类号： | G05D23/20 |
| 代理公司： | 山西五维专利事务所有限公司 | 代理人： | 崔雪花 |
| 地址： | 030006*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 一种用于控制非线性晶体温度的高温温度控制仪，属于温度控制仪技术领域，它由温度控制装置(1)、炉温升速控制装置(2)、炉温过热保护装置(3)、晶体炉(4)和共集放大电路(5)组成；本发明具有精确设定工作点温度、升温过程准匀速、并带有过热自动保护电路等特点，实现了设置点精度高、升温过程准匀速、并带有自动保护电路的高温温度控制仪。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 控制 光学 晶体 温度 高温 | ||
【主权项】：
1、一种用于控制非线性晶体温度的高温温度控制仪，由温度控制装置(1)、炉温升速控制装置(2)、炉温过热保护装置(3)、晶体炉(4)和共集放大电路(5)组成，其特征在于：温度控制装置(1)中pid控制单元(10)的两个输入分别与温度设定单元(8)、温度取样单元(9)的输出连接；位于晶体炉(4)内的温度传感器Rt1与温度取样单元(9)的输入相连；pid控制单元(10)经炉温升速控制装置(2)控制后与共集放大电路(5)的输入端连接，共集放大电路(5)的输出端与晶体炉(4)中的加热装置(17)连接；所述的温度控制装置(1)中的温度取样单元(9)的输出还与炉温升速控制装置(2)和过热保护装置(3)的输入连接，温度控制装置(1)中的pid控制单元(10)的输出与炉温升速控制装置(2)的输出连接，过热保护装置(3)的输出与pid控制单元(10)的输出连接。
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