[发明专利]一种基于动态刷新机制的坏点检测电路

摘要

一种坏点检测方法及其电路，用于对图像传感器采集的大小为m×n的图像进行坏点检测，该电路包括同步检测模块、检测控制模块、像素保存模块、坏点检测运算模块和坏点位置保存模块。先选定对每帧图像处理的列数q和坏点运算矩阵大小K×K且K＝2k+1，S(j)＝q×(j－1)－2k(j－1)和0中的大值，E(j)＝q×j－2k(j－1)－1和m中的小值；从第1帧图像开始，在收到第j帧图像的数据时，将该帧图像的前2k行从S(j)到E(j)列的数据保存在存储器中，构成矩阵Q；再将矩阵Q和该帧第i行从S(j)到E(j)列的数据组成一K×q矩阵，完成坏点检测，然后用第i行数据替换存储器中的第i－2k行数据；对多帧图像处理后，就完成了整个图像的坏点检测。本发明可实时进行坏点检测，电路规模较小。

主权项

1、一种基于动态刷新机制的坏点检测方法，用于对图像传感器所采集的大小为m×n的图像进行坏点检测，其中m为每行的像素点数，n为每列的像素点数，先选定对每帧图像处理的列数为q，以及坏点检测算法所用矩阵的大小为K×K且K＝2k+1，令S(j)＝q×(j-1)-2k(j-1)和0中的大值，令E(j)＝q×j-2k(j-1)-1和m中的小值，j为每帧图像的序号，j＝1，2，…，J，J等于(m-2k)除以(q-2k)的商再向上取整；从第1帧图像开始，在图像传感器逐行送出第j帧图像的数据时，进行以下处理：先将该帧图像的前2k行从第S(j)列到第E(j)列的数据保存在存储器中，构成一个2k×q矩阵Q；当该帧第i行数据到来时，i＝K，K+1，……，n-1，将矩阵Q和第i行从第S(j)列到第E(j)列的数据组成了一个K×q矩阵，逐一对其中第i-(k+1)行从第S(j)+3列至第E(j)-3列的像素点做检测，如发现坏点就记录该点的位置，检测完后用第i行从第S(j)列到第E(j)列的数据替换存储器中保存的第i-2k行的数据；如此逐行处理，直到处理完第j帧图像的所有数据；处理完所有J帧图像数据后，就检测出了整个图像上所有坏点的位置。