[发明专利]反复试验多比特纠错无效
| 申请号： | 200610002302.8 | 申请日： | 2006-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN1811720A | 公开（公告）日： | 2006-08-02 |
| 发明（设计）人： | 亨克·尼夫斯;艾伦·鲍姆 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的实施方案是一种使用反复试验技术执行纠错的技术。检验子生成器提供根据至少一个纠错参数的选择进行修改的数据字的数据检验子的生成。数据字与在一个单元上执行的至少一个事务相关联。控制器控制迭代数据检验子的生成。 | ||
| 搜索关键词： | 反复 试验 比特 纠错 | ||
【主权项】：
1.一种装置，包括：检验子生成器，所述检验子生成器提供根据至少一个纠错参数的选择进行修改的数据字的数据检验子的生成，所述数据字与在一个单元上执行的至少一个事务相关联；以及耦合到所述检验子生成器的控制器，所述控制器控制迭代所述数据检验子的生成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英特尔公司，未经英特尔公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610002302.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
