[发明专利]基于集成电路内的差错传播的差错检测电路的插入有效
| 申请号： | 200580051651.2 | 申请日： | 2005-10-03 |
| 公开（公告）号： | CN101273356A | 公开（公告）日： | 2008-09-24 |
| 发明（设计）人： | J·A·布洛姆;K·弗劳特纳;D·W·布拉德利 | 申请（专利权）人： | ARM有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;G06F11/26 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张雪梅;王小衡 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 一种在集成电路内选择应当放置差错检测电路(20)的位置的方法，所述方法使用参考和测试设计的仿真，并且差错被注入到测试设计并且然后根据注入的差错执行扇出分析以确定差错传播特性。因此，可以识别寄存器(12)，在所述寄存器处传播的差错很可能表现出它们自己或者所述寄存器保护关键体系结构状态，或者所述寄存器保护在其它情况不被保护的状态，并且由此获得差错检测机制的有效部署。在集成电路(68)内，根据检测到的集成电路的当前状态，来自不起作用电路元件的输出信号可能经受隔离门(92、94、96、98、100)。由此，出现软差错的不起作用电路元件具有不适当的输出信号；从到达集成电路的其余部分被选通并由此减少错误操作。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 集成电路 差错 传播 检测 电路 插入 | ||
【主权项】：
1.一种在集成电路内选择一个或多个位置以放置相应差错检测电路的方法，所述方法包括的步骤为：分析所述集成电路以为所述集成电路内的多个位置确定相应的扇出特性用于在那些位置出现的信号差错；以及根据所述扇出特性为所述差错检测电路选择位置。
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