[发明专利]用于分析物质的方法和装置有效
| 申请号： | 200580045753.3 | 申请日： | 2005-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN101095047A | 公开（公告）日： | 2007-12-26 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·许特尔;克里斯托夫·海茨;于尔根·沙韦 | 申请（专利权）人： | 梅特勒－托莱多股份公司 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 衷诚宣 |
| 地址： | 瑞士格*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于分析物质的方法，在其中对物质进行激励并观测对应的响应。接着以预先确定反映激励与响应之间的相关性的参数模型的方式进行评估。通过激励值和时域响应观测值来确定模型参数。通过模型参数计算频域传递函数，并通过传递函数直接计算物质的特征量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 物质 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析物质的方法，其中对物质进行能产生可观测响应的动态激励，并基于所述激励与所述响应之间的相关性确定物质的特征量，其特征在于，通过参数模型表达所述激励与所述响应之间的相关性，对所述参数模型预先设置具有有限个待定参数的特定模型结构，通过激励值及关联的时域响应测量值计算模型的参数，通过这样计算出的参数直接确定频域传递函数，以及通过所述传递函数直接计算所述特征量。
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