[发明专利]射频测试接口无效
| 申请号： | 200580045154.1 | 申请日： | 2005-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN101258648A | 公开（公告）日： | 2008-09-03 |
| 发明（设计）人： | S·L·万斯 | 申请（专利权）人： | 索尼爱立信移动通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H01R13/646 | 分类号： | H01R13/646;G01R1/20 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 崔幼平;黄力行 |
| 地址： | 瑞典*** | 国省代码： | 瑞典;SE |
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| 摘要： | 一种电子装置的射频测试接口，包括一电路板，该电路板包括一射频触点并且具有一穿过电路板延伸的开口。一天线包括一弹性件，该弹性件促使天线连接到射频触点。一测试连接器包括一导电触点，以及被设置成连接该弹性件以将天线从射频触点移开，从而允许导电触点连接到射频触点。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 测试 接口 | ||
【主权项】：
1、一种用于电子装置的射频测试接口，它包括：电路板，所述电路板包括射频触点并且具有穿过所述电路板延伸的开口；天线，所述天线构形成接合所述射频触点；测试连接器，所述测试连接器包括构形成接合所述射频触点的导电触点和非导电柱，所述非导电柱构形成通过所述电路板的所述开口被接纳，以使所述天线与所述射频触点脱开接合。
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