[发明专利]确定磁性粒子的空间分布的装置和方法无效
申请号: | 200580044552.1 | 申请日: | 2005-12-14 |
公开(公告)号: | CN101087556A | 公开(公告)日: | 2007-12-12 |
发明(设计)人: | B·格莱克;J·韦泽尼克;T·尼尔森 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | A61B5/05 | 分类号: | A61B5/05 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 李亚非;谭祐祥 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及在检查区域中确定磁性粒子的空间分布的装置和方法。磁场设备用于产生空间非均匀梯度磁场,这种磁场有至少一个区具有低磁场强度,在该区中,粒子的磁化处于非饱和状态,而粒子在余下的区中处于饱和状态。通过利用改变设备在检查区域中改变具有低场强的区的位置,就会导致磁性粒子的磁化的改变,这种改变可从外部由检测设备进行检测并含有与检查区域中的磁性粒子的空间分布有关的信息。磁场设备或改变设备或检测设备或这些设备的组合至少部分地布置在医疗器械上。 | ||
搜索关键词: | 确定 磁性 粒子 空间 分布 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种在检查区域中确定磁性粒子的空间分布的装置,所述装置包括:a)磁场设备(13a、13b、25、30和31),所述磁场设备用于产生磁场,所述磁场具有磁场强度的空间行进路线,以在所述检查区域中有第一部分区(27)和第二部分区,所述第一部分区(27)具有低磁场强度,所述第二部分区具有较高的磁场强度,b)改变设备(14、15a、15b、16a和16b),所述改变设备用于改变所述检查区域中的所述两个部分区的空间位置,以使所述粒子的磁化局部改变,c)检测设备(17),所述检测设备(17)用于检测信号,所述这些信号取决于受到所述空间位置的改变所影响的所述检查区域中的磁化,d)估计设备,所述估计设备用于估计信号,以获取与所述检查区域中的磁性粒子的空间分布有关的信息,其中,所述磁场设备或所述改变设备或所述检测设备或所述这些设备的组合至少部分地布置在医疗器械(8和8a)上。
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