[发明专利]用于确定无线装置的辐射性能的系统、方法和设备无效
| 申请号： | 200580044478.3 | 申请日： | 2005-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN101088016A | 公开（公告）日： | 2007-12-12 |
| 发明（设计）人： | E·T·奥萨基;K·福克;P·M·泽肯多夫;T·M·卡塞特;P·蒂尔尼;G·A·布赖特;J·李 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;H04Q7/34 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王英 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 系统、方法、设备、处理器和计算机可读介质包括辐射测试模块，所述辐射测试模块对无线装置执行预定辐射性能测试。该测试指示在多个预定位置中的每个位置处测量并记录多种性能相关参数。此外，该无线装置接收用于在所记录的测量值和每个位置之间实现同步的同步信息。同步日志允许该无线装置或另一个设备基于预定分析协议来确定辐射性能特征。此外，所述实施例能够在单个测试中使用单个未更改的无线装置确定若干辐射性能特征。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 无线 装置 辐射 性能 系统 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定无线装置的辐射性能特征的方法，包括：确定所述无线装置在与预定辐射性能测试相关联的多个位置中的每个位置处所接收的信号的测量信号特征；将多个测量信号特征记录在所述无线装置上的测试日志中；以及将同步数据记录在所述无线装置上的所述测试日志中，所述同步数据对应于所述多个位置中的每个位置的相应位置，并且还对应于所述多个测量信号特征中的每个测量信号特征；其中，所述多个测量信号特征和所述同步数据决定所述无线装置的所述辐射性能特征。
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