[发明专利]用于产生独立多元校准模型的方法

摘要

本发明提供了一种开发独立的多元校准模型的方法，该多元校准模型用于根据目标仪器上的对样本的多个主特性的测量结果来确定该样本的副特性。该方法可以考虑基准仪器处的对具有已知副特性的足够数量的校准样本的多个主特性进行测量的结果，而开发出用于目标仪器的独立校准模型。在该方法中，选择一组传递样本，并且利用基准仪器和目标仪器二者对各个传递样本的多个主特性进行测量。然后，通过比较目标仪器和基准仪器对传递样本的响应来生成变换关系。这些关系能够根据基准仪器对来自校准组的各个样本的响应来执行目标仪器对这些样本的响应的多元估计。然后，使用估计出的目标仪器对校准样本的响应来计算将估计出的各个校准样本的主特性与已知的相应副特性相关联的关系中的校准常数。因此，在目标仪器处开发出独立的校准模型，该校准模型使得可以扩展校准样本组并利用离群点统计来检测校准组中的离群点样本和识别可被分析的未知样本。

主权项

1、一种开发独立的多元校准模型的方法，该方法包括以下步骤：选择一组具有已知的经分析副特性的校准样本；在基准仪器处测量各个校准样本的多个主特性；利用变换关系，根据所述基准仪器对于各个校准样本的响应来估计目标仪器对于该样本的响应；通过以回归分析的方法对估计出的所述目标仪器对校准样本的响应进行处理，使得生成主特性与副特性之间的关系中的大量校准常数，来开发出所述目标仪器处的独立的校准模型；其中所述变换关系如下来确定：选择一组传递样本；在基准仪器和目标仪器二者处测量各个传递样本的多个主特性；以及使所述目标仪器处的对传递样本进行测量的结果与所述基准仪器处的对相同样本的主特性进行测量的结果相关联；在该情况下，通过验证过程来保证独立校准模型的最佳化。