[发明专利]辐射检测装置及方法无效
| 申请号： | 200580021180.0 | 申请日： | 2005-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN101065730A | 公开（公告）日： | 2007-10-31 |
| 发明（设计）人： | R·K·米纳米尔 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00;G01T1/24;H01L31/115 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陈斌 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 根据一实施例公开了一种装置。该计算机装置包括第一集成电路(IC)和第二IC。第二IC(150)包括软差错率(SER)不敏感组件(240至275)以及用于检测会导致第一IC的逻辑处的软差错的辐射的SER组件(210，220，230)。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种装置，包括：第一集成电路(IC)；以及第二IC，所述第二IC具有：软差错率(SER)不敏感组件；以及SER组件，所述SER组件用于检测会导致所述第一IC的逻辑处的软差错的辐射。
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