[发明专利]电路验证装置、电路验证方法以及用于其的信号分发方法无效

专利信息
申请号: 200580010455.0 申请日: 2005-03-29
公开(公告)号: CN1938949A 公开(公告)日: 2007-03-28
发明(设计)人: 细川晃平 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: H03K19/173 分类号: H03K19/173;G06F1/10;G06F17/50
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人: 王怡
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 将被验证电路分割成多个电路部分。具有多个可编程设备以用于通过模拟来实现分割的各个电路部分的功能操作。设置将被验证电路所使用的应该同时给出的信号(SX)供应给多个可编程设备的布线,使得信号(SX)分别到达多个可编程设备的时刻的最大时滞比在可编程设备之间的数据传输所需的最小时间还要小。在各个可编程设备中,实现用于从信号生成装置(400)输入信号(SX)的输入端子(PX),从而能够从信号生成装置直接输入信号(SX),并能够抑制时滞的发生。
搜索关键词: 电路 验证 装置 方法 以及 用于 信号 分发
【主权项】:
1.一种电路验证装置,通过模拟来验证被验证电路的功能操作,其特征在于,所述被验证电路被分割成多个电路部分,所述电路验证装置包括:多个模拟单元,实现被分割的各个电路部分;第一布线单元,连接所述多个模拟单元以使得它们可以相互进行通信;第一信号生成单元,生成应该在同一定时发给所述多个模拟单元中的两个以上模拟单元的第一信号;以及第二布线单元,将所述第一信号从所述第一信号生成单元直接供应给所述两个以上的模拟单元;其中,所述两个以上的模拟单元中的每一个都实现有与所述第二布线单元连接、用于从所述第一信号生成单元输入所述第一信号的输入端子,并且,在所述第二布线单元中,所述第一信号生成单元输出的所述第一信号分别到达所述两个以上的模拟单元的时刻的最大时滞比在所述多个模拟单元之间的基于所述第一布线单元的数据传输所需的最小时间小。
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