[发明专利]光电综合实验测试方法有效

专利信息
申请号: 200510136070.0 申请日: 2005-12-31
公开(公告)号: CN1804949A 公开(公告)日: 2006-07-19
发明(设计)人: 王庆有 申请(专利权)人: 王庆有
主分类号: G09B25/00 分类号: G09B25/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 王丽
地址: 300192天津市南*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于光、机、电、算结合型的光电综合实验测试方法。由功能电路板构成的光电综合实验,对同步逻辑信号的各项参数进行设置,并启动设备开始工作,然后进入等待状态,等待硬件申请中断,硬件在设置参数并启动后进行多通道同步的A/D转换,并将转换结果存入存储器内,然后计数,如果计数器的值达到设置的数值则申请中断,否则继续A/D转换,当硬件产生中断请求后,计算机系统响应请求,并开始传输数据、显示波形。本发明是理工科大学实验教学的重要平台,也是高新技术企业的开发实验平台。通过试验平台提供的各种光电器件在实验指导书与实验指导教师的指导下完成各种规范的实验与创造性的设计实验。
搜索关键词: 光电 综合 实验 测试 方法
【主权项】:
1.一种光电综合实验测试方法,其特征是:功能电路板对同步逻辑信号的各项参数进行设置,并启动设备开始工作,然后进入等待状态,等待硬件申请中断,硬件在设置参数并启动后进行多通道同步的A/D转换,并将转换结果存入存储器内,然后计数,如果计数器的值达到设置的数值则申请中断,否则继续A/D转换,当硬件产生中断请求后,软件响应请求,并开始传输数据、显示波形;数据传输结束后,判断是否要停止设备,如果要停止设备,则停止硬件设备,退出多路同步示波功能,否则等待下一次硬件中断请求。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于王庆有,未经王庆有许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510136070.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top