[发明专利]计算机组件测试方法及测试系统

摘要

一种计算机组件测试方法及测试系统，通过控制计算机内部的中央处理器温度，以增加中央处理器周边计算机组件的测试压力进而对计算机组件进行测试，通过设置计算机组件的测试温度波动范围来进行计算机组件的测试温度的设置，当实时温度等于测试温度时便通过测试程序对计算机组件进行测试。本发明的测试系统可提前装入雏形机内，适宜进行大规模测试，而且本发明的测试方法自动化程度高，并可在特定温度下对待测组件进行测试，为了解待测计算机组件在不同温度下的表现创造条件。

主权项

1、一种计算机组件测试方法，通过控制计算机内部的中央处理器温度，以调整所述中央处理器周边计算机组件的测试压力进而对所述计算机组件进行测试，其特征在于，所述测试方法包含以下步骤：步骤a、设置所述计算机组件的测试温度波动范围并储存所述测试温度波动范围值；步骤b、设置并储存所述计算机组件的一测试温度，并令所述测试温度处于所述测试温度波动范围内；步骤c、读取所述中央处理器的一实时温度；步骤d、判断所述实时温度是否等于所述测试温度，如果否，则执行步骤e，如果是，则执行步骤f；步骤e、调整所述中央处理器的实时温度，然后执行步骤c；以及步骤f、通过测试程序对所述计算机组件进行测试。