[发明专利]光学仪器的制造方法无效
申请号: | 200510119234.9 | 申请日: | 2005-10-28 |
公开(公告)号: | CN1783265A | 公开(公告)日: | 2006-06-07 |
发明(设计)人: | 石原久宽 | 申请(专利权)人: | 株式会社三协精机制作所 |
主分类号: | G11B7/22 | 分类号: | G11B7/22;G11B7/125 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 沈昭坤 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供在光学仪器的制造工艺过程中进行半导体激光器的角度位置的调整等时,不使用复杂的算法也能高精度地检测出半导体激光元件的发光图案的倾角的光学仪器的制造方法。在制造光头装置等光学仪器时,在半导体激光元件(20)的角度位置检测工序中,以低于激发阈值的电流驱动半导体激光元件(20),使半导体激光元件(20)的端面以自发发射的模式呈线状发光,根据线状发光图案的观察结果,检测出半导体激光元件(20)的光轴周围的角度位置。这时,也可以对线状的发光图案进行图象处理并求得所述发光图案的直线近似图案,根据直线近似图案检测出半导体激光元件(20)的光轴周围的角度位置。所述检测结果可以用于调整半导体激光元件(20)的角度位置等。 | ||
搜索关键词: | 光学仪器 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光学仪器的制造方法,其特征在于,具备角度位置检测工序,所述角度位置检测工序是以低于激发阈值的电流驱动半导体激光元件,使所述半导体激光元件的端面以自发发射的模式呈线状发光,根据所述线状发光图案的观察结果,检测出所述半导体激光元件的光轴周围的角度位置的工序。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社三协精机制作所,未经株式会社三协精机制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510119234.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。