[发明专利]电子照相用层压膜、使用该层压膜的信息记录介质以及该信息记录介质的制造方法有效
| 申请号： | 200510109151.1 | 申请日： | 2005-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN1892447A | 公开（公告）日： | 2007-01-10 |
| 发明（设计）人： | 樱井邦夫;小林智雄;鸟越薰 | 申请（专利权）人： | 富士施乐株式会社 |
| 主分类号： | G03G7/00 | 分类号： | G03G7/00;B42D15/10;B32B5/00;B32B37/06 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁香兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了一种电子照相用层压膜，该层压膜包含基材、形成在所述基材的一个表面上的层压层和形成在所述基材的另一个表面上的非层压层，其中所述非层压层至少含有树脂和微粒，并且满足不等式(1)1.5≤R≤5；(2)0.1≤t＜R；和(3)7/R≤n，其中R代表所述微粒的体积平均粒径(μm)；t代表所述非层压层的厚度(μm)；n代表基材平面方向上每10000平方微米非层压层中所含有的微粒数(微粒/(100μm)2)。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 照相 层压 使用 信息 记录 介质 以及 制造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电子照相用层压膜，该层压膜包含基材、形成在所述基材的一个表面上的层压层和形成在所述基材的另一个表面上的非层压层，其中所述非层压层至少含有树脂和微粒，并且满足下列不等式(1)～(3)：不等式(1)：1.5≤R≤5；不等式(2)：0.1≤t＜R；和不等式(3)：7/R≤n，其中R代表所述微粒的体积平均粒径，单位为微米；t代表所述非层压层的厚度，单位为微米；n代表基材平面方向上每10000平方微米非层压层中所含有的微粒数，单位为微粒/(100微米)2。
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