[发明专利]磁头支架部件静态姿态的测定和调节

摘要

一种装置和方法，用于测定和调节用在动态存贮装置中磁头支架或者磁头支架组件的静态姿态。本发明的装置一般包括用于支承和定位磁头支架的工件支承部分和调节装置。本发明的方法一般包括测定滑动件安装舌形件或者装在该舌形件上的滑动件的静态姿态。另外，该方法最好还包括独立于挠形件另一常平架臂可控的使挠形件的各个常平架臂形变，以便使该常平架臂产生永久形变，从而在如果存在问题时，调节滑动件安装舌形件或者滑动件的静态姿态。本发明的再一方面涉及光学测量装置，用于测定表面的平面取向，例如磁头支架或者磁头支架组件表面的平面取向。

主权项

1.一种测量表面平面取向的光学测量装置，该装置包括：聚焦透镜，该透镜具有聚焦轴线和位于该聚焦轴线上的焦点，该聚焦透镜配置在透镜的焦点和在操作上位于透镜聚焦轴线上的检测器之间；光束分束器(splitter)，该分束器在操作上位于聚焦透镜的聚焦轴上，并配置在该聚焦透镜和检测器之间；光源，其光射向该光束分束器，其中光源照射该光束分束器，并由该光束分束器改变方向，使其沿着聚焦透镜的聚焦轴，射到聚焦透镜的焦点；遮光板，具有在操作上配置在光源和光束分束器之间的孔，该孔确定光源的尺寸和形状；其特征在于，该透镜的焦点位于要测定表面平面取向的该表面上。