[发明专利]平面显示器驱动电路测试方法无效
| 申请号： | 200510098221.8 | 申请日： | 2005-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN1924601A | 公开（公告）日： | 2007-03-07 |
| 发明（设计）人： | 陈育瑞;陈俊荣;陈英烈 | 申请（专利权）人： | 奇景光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G09G3/36;G09G3/20 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种平面显示器驱动电路测试方法，可适用于封装后测试，特别是当其负载能力控制脚位未拉出于芯片外部的情况下。首先，提供输出缓冲器及耦接输出缓冲器的不同尺寸晶体管于平面显示器驱动集成电路内部。从平面显示器驱动集成电路的外部输入表示封装后测试事件的特定图案。举例来说，特定图案可以从平面显示器驱动电路的外部输入数据反向信号脉冲至数据反向脚位，另外，从平面显示器驱动电路的外部输入启动脉冲至启动脚位。当侦测到表示封装后测试事件的特定图案后，大尺寸晶体管便可以关闭，藉以调整(降低)输出缓冲器的负载能力至匹配测试机台的程度，进而避免该输出缓冲器在封装后测试时因为低负载所生的振荡。 | ||
| 搜索关键词： | 平面 显示器 驱动 电路 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种平面显示器驱动电路测试方法，其特征在于其包括以下步骤：提供一输出缓冲器，以及耦接该输出缓冲器的第一与第二晶体管于一平面显示器驱动电路内部，其中，该第一晶体管尺寸小于该第二晶体管尺寸；由该平面显示器驱动电路外部输入表示一封装后测试事件的一特定图案；以及当侧测到该特定图案时，触发一内部控制信号以截止该第二晶体管，藉以于低负载条件下测试该平面显示器驱动集成电路。
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